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Nordson Dage Quadra Series X射线检测系统

 详情说明

XD7500VR Jade FP X射线检测系统

半导体设备 X射线检查机

Jade Plus可以独特地检测您的产品品质。
内置尺寸测量工具、BGA空洞分析、凸点直径和圆度以及通孔填充,可快速查找并表征缺陷,帮助您达到IPC-A-610和IPC-7095合规标准。
0.95μm解析度决定了是否能在无源元件中发现微裂纹。
诺信DAGE双倾斜角探测器的独特几何结构是检测缺陷的最快路径,而这些缺陷仅在特定视角下才能看见。
第四代开放管技术非常适合以微米级解析度检测电子样品。

Nordson DAGE Jade Plus X射线检测系统

改变市场的成本效益生产平台

■Nordson DAGE开放式透射X射线管
■<0.95微米特征识别管
■160 kV管,目标功率为3W,亚微米特征识别
■Nordson DAGE 133万像素@10fps长寿命CMOS平板探测器,具有实时图像增强功能
■几何放大倍数1400X,系统4200X
■最大电路板尺寸为29英寸x22.8英寸(736x580毫米)
■高达65°的倾斜视图,不会损失放大倍数
■23英寸TFT液晶显示器
■自动检查任务不需要编程技能
■高质量实时成像
■μCT选项

快速检测速度

自动检测程序

通过自动检测程序节省批量电路板的检测时间。程序仅需一次编程,然后放置电路板并单击运行即可。几秒钟内生成报告,报告可以保存在本地或中央数据库中。

2个倾斜角

借助独特的双斜轴几何结构,可以快捷方便地找到质量缺陷。可在高放大倍率下全面地查看每个细节,而无需旋转样品。您永远不会错过样品的测试角度。

轻松导航

借助组件导航图可轻松到达想要的位置。只需单击一下,即可直接移动到电路板上的任何位置。使用实时部件ID查看器覆盖进行移动时,了解您正在查看的内容。

Nordson DAGE Jade Plus X射线检测系统
X射线检测系统规格表


型号 XD7500VR-Jade-FP
系统
尺寸 57英寸x67英寸x77.5英寸(宽x深x高)
尺寸 1450x1700x1970毫米(宽x深x高)
系统重量 1950公斤(4300磅)
最大样品重量 5公斤
电源 单相200-230Vac,16A
最大功耗 最大1000W
工作温度范围 10-30“C
湿度 <85%(不凝结)
选项
操纵杆控制(X、Y或X、Y和Z)
条码阅读器
uCT选项,可订购系统或作为改装